本标准是对GB/T17473—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分)的整合修订,分为7个部分,本部分为GB/T17473—2008的第5部分。
本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中 粘度的测定方法。 本部分代替GB/T17473.5—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定》。
本部分与GB/T17473.5—1998相比,主要有如下变化:
———将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;
———将原标准中范围去除“非贵金属电子浆料粘度测定也可参照本标准执行”