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半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

标 准 号: GB/T 4937.3-2012
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所
发布日期: 2012-11-05
实施日期: 2013-02-15
点 击 数:
更新日期: 2013年08月30日
内容摘要

T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

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