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半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

标 准 号: GB/T 35007-2018
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所等
发布日期: 2018-03-15
实施日期: 2018-08-01
点 击 数:
更新日期: 2018年05月12日
内容摘要

本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号(LVDS,Low Voltage Differential Signaling)电路(以下称为器件)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

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