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半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (ddr3 sdram)测试方法

标 准 号： GB/T 36474-2018
替代情况：
发布单位： 中国国家标准化管理委员会
起草单位： 中国电子技术标准化研究院
发布日期： 2018-06-07
实施日期： 2019-01-01
点 击 数：
更新日期： 2018年10月03日
内容摘要

本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器功能验证和电参数测试。

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