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微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法

标 准 号: GB/T 42895-2023
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 北京大学、中机生产力促进中心有限公司、中国电子技术标准化研究院、北京燕东微电子科技有限公司 等
发布日期: 2023-08-06
实施日期: 2023-12-01
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更新日期: 2023年09月24日
内容摘要

本文件描述了硅基MEMS加工所涉及的微结构弯曲强度原位试验的要求和试验方法。
本文件适用于采用微电子工艺制造的微结构弯曲强度测试。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
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