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宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标 准 号： GB/T 43226-2023
替代情况：
发布单位： 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位： 中国航天电子技术研究院 等
发布日期： 2023-09-07
实施日期： 2024-01-01
点 击 数：
更新日期： 2023年09月30日
内容摘要

本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。


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