现行
导航: >> 安全标准>> 行业标准>> 电力>>正文

半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

标 准 号: GB/T 4937.35-2024
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所
发布日期: 2024-03-15
实施日期: 2024-07-01
点 击 数:
更新日期: 2024年06月08日
内容摘要

本文件规定了塑封电子元器件进行声学显微镜检查的程序。本文件提供了一种使用声学显微镜对塑料封装进行缺陷(分层、裂纹、模塑料空洞等)检查的方法,本方法具有可重复性,是非破坏性试验。


如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
网友评论 more
创想安科网站简介会员服务广告服务业务合作提交需求会员中心在线投稿版权声明友情链接联系我们
Baidu
map