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GB/T 11313的本部分规定了射频连接器插入损耗的测试方法。 本部分适用于接电缆的射频连接器、接微带射频连接器和射频连接器转接器等的测试,也适用于多路射频同轴连接器和混装连接器中的射频通道的测试。