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光栅式测微仪校准规范

标 准 号: JJF 1682-2017
替代情况: 替代 JJG 989-2004
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
起草单位: 中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
发布日期: 2017-11-20
实施日期: 2018-05-20
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更新日期: 2023年05月06日
内容摘要

本规范适用于0.1 μm级行程为0~10 mm、0.2 μm级行程为0~25 mm、0.5 μm级行程为0~50 mm、1 μm级~10 μm级行程为0~100 mm的光栅式测微仪校准。

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