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工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标 准 号: GB/T 14849.5-2014
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
起草单位: 昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司
发布日期: 2014-12-05
实施日期: 2015-05-01
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更新日期: 2015年09月28日
内容摘要

GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。

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