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工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标 准 号： YS/T 1160-2016
替代情况：
发布单位： 中华人民共和国工业和信息化部
起草单位： 昆明冶金研究院等
发布日期： 2016-07-11
实施日期： 2017-01-01
点 击 数：
更新日期： 2019年07月28日
内容摘要

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%。

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