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硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法

标 准 号: GB/T 1553-2023
替代情况: 替代 GB/T 1553-2009
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 浙江海纳半导体股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司等
发布日期: 2023-08-06
实施日期: 2024-03-01
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更新日期: 2023年09月20日
内容摘要

本文件规定了非本征硅单晶和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的光电导衰减测试方法。本文件适用于非本征硅单晶和锗单晶中非平衡少数载流子寿命的测试。直流光电导衰减脉冲光法可测试具有特殊尺寸的长方体或圆柱体样品,测试硅单晶的最短寿命值为50 μs,测试锗单晶最短寿命值为10μs。高频光电导衰减法可测试棒状或块状样品,测试硅单晶和锗单晶的最短寿命值为10μs。注:直流光电导衰减方法有两种:直流光电导衰减脉冲光法和直流光电导衰减斩波光法(见附录A)。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
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